「蛍光寿命測定器(TCPHC-1000)」をご紹介します。

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蛍光寿命測定装置

蛍光寿命測定器　(TCPHC-1000)

蛍光寿命測定器(TCPHC-1000) ピコ秒蛍光寿命測定の必需品

時間相関フォトンカウンティングの原理を利用して超高速の蛍光寿命を測定し、物質の分子レベルの時間的反応を調べる装置です。別名「時間分解フォトルミネッセンス装置」とも呼ばれています。

光反応物質の蛍光特性評価に使用され、ピコ秒の時間分解で光反応を評価できます。フォトンカウンティングを使用していますので、極めて微量の光反応が測定できます。

PDFカタログ(278KB)　詳細はカタログでご確認下さい。

特長	用途
・方式：時間相関単一光子計数法・最高10ピコ秒程度までの時間分解能^※ ・CFD、TAC、MCA内蔵・USB接続で簡単に測定が可能・時間スケール：40ns、100ns、200ns、2μs、 20μs（暫定仕様）	・ナノテクノロジー研究・カーボンナノチューブ・次世代半導体材料、有機EL研究・蛍光寿命測定、分子レベルの光反応測定・超高速の光反応物質の測定と評価・光材料の特性評価・物質の分子構造や状態解析・超高速時間現象の解析・半導体結晶性評価、発光機構解明・後方散乱光解析、レイリー散乱解析・光エレクトロ二クス、ナノ原子物性評価・フォトンカウンティングレベルの時間現象の解析

特長

用途

・方式：時間相関単一光子計数法
・最高10ピコ秒程度までの時間分解能^※
・CFD、TAC、MCA内蔵
・USB接続で簡単に測定が可能
・時間スケール：40ns、100ns、200ns、2μs、
20μs（暫定仕様）

・ナノテクノロジー研究・カーボンナノチューブ
・次世代半導体材料、有機EL研究
・蛍光寿命測定、分子レベルの光反応測定
・超高速の光反応物質の測定と評価
・光材料の特性評価
・物質の分子構造や状態解析
・超高速時間現象の解析
・半導体結晶性評価、発光機構解明
・後方散乱光解析、レイリー散乱解析
・光エレクトロ二クス、ナノ原子物性評価
・フォトンカウンティングレベルの時間現象の解析

※システム全体の分解能は使用される検出器の時間分解能に依存します。最高の分解能を得るにはMCP－PMTの使用を推奨します。